гониометр
51Рентгеновский гониометр — прибор, с помощью которого можно одновременно регистрировать направление дифрагированных на исследуемом образце рентгеновских лучей (См. Рентгеновские лучи) и положение образца в момент возникновения дифракции. Р.г. может быть… …
52РЕНТГЕНОВСКИЙ ГОНИОМЕТР — прибор для рентгеновского структурного анализа. Регистрирует одновременно направление дифракц. лучей и положение образца …
53гониометрический — гониометр ический …
54гоніометр — гониометр goniometer Honiometer прилад для вимірювання кутів між плоскими гранями твердих тіл, напр., кристалів. Використовують у кристалографії, геодезії тощо …
55Угол лицевой* — Фиг. 1. BAF лицевая линия Кампера; KAM горизонтальная линия Кампера, FAM лицевой угол Кампера; NB горизонтальная линия Кювье; NBF лицевой угол Кювье; VС горизонтальная линия Клоке; VCL лицевой угол Клоке, OD лицевая линия Жаккара; MDO лицевой… …
56Угол лицевой — У., образуемый так назыв. лицевой линией и горизонтальной линией черепа и служащий для определения некоторых особенностей конфигурации лица, как на черепе, так и на живом субъекте. Так как лицевая и горизонтальная линия черепа могут быть… …
57Суста́вы — (articulationes; синоним сочленения) подвижные соединения костей скелета, которые участвуют в перемещении отдельных костных рычагов относительно друг друга, в локомоции (передвижении) тела в пространстве и сохранении его положения. Различают… …
58ФОТОМЕТРИЯ — раздел прикладной физики, занимающийся измерениями света. С точки зрения фотометрии, свет это излучение, способное вызывать ощущение яркости при воздействии на человеческий глаз. Такое ощущение вызывает излучение с длинами волн от ФОТОМЕТРИЯ0,38… …
59ЛАУЭ МЕТОД — метод исследования монокристаллов с помощью дифракции рентгеновских лучей. Представляет собой усовершенствованную методику опыта, поставленного (в 1912) в Германии В. Фридрихом (W. Friedrich) и П. Книппингом (Р. К nipping) по предложению М. Лауэ… …
60РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ — (рентгено структурный анализ), метод исследования атомно мол. строения в в, гл. обр. кристаллов, основанный на изучении дифракции, возникающей при взаимод. с исследуемым образцом рентгеновского излучения длины волны ок. 0,1 нм. Используют гл. обр …
